非接觸三次元由於萬能測量顯微鏡及工具顯微鏡無法做Z軸方向的測量。1940年首先推出以肉眼來讀標準尺及顯微鏡的比較測量方式的三坐標測長儀。1950至1960年間才真正製造出三坐標測量機，但仍沿用肉眼讀出方式，因此需用熟練的技術人員來操作方能達成。
非接觸三次元量測技術是一種先進的測量方法，通常使用光學或雷射技術來捕捉物體表面的三維信息，而無需實際接觸物體表面。這種技術通常用於以下幾個方面：
這些技術通常使用高精度的光學系統或雷射掃描系統，能夠快速、準確地生成物體的三維模型或數據，為設計、分析和生產過程提供重要支持。
非接觸三次元量測儀關鍵如下：氣浮軸承，各坐標軸移動面使用氣浮軸承，使得測頭移動順暢，可以很精確得移動測頭；光學線性尺，配合安裝於機器坐標系上的三線光學線性尺，可以很精確得獲得坐標測量值；電腦設備，坐標測量機採用計算法獲得測量結果，數據處理機及所具備的測量軟體，增加了坐標測量機的功能。因為上述三項的科技進步成果，使坐標測量機具備了優越的測量功能。
非接觸三次元量測儀是一種先進的測量設備，利用光學技術或雷射技術，對物體進行高精度的三維測量。這種儀器在工業製造、品質控制和研發中應用廣泛，因為它能夠提供快速且精確的測量結果。
非接觸三次元量測儀是一種先進的測量設備，利用光學技術或雷射技術，對物體進行高精度的三維測量。這種儀器在工業製造、品質控制和研發中應用廣泛，因為它能夠提供快速且精確的測量結果。
非接觸三次元量測儀的基本工作原理是利用光學探頭或雷射掃描來捕捉物體表面的形狀和特徵。這些儀器通常包括高分辨率的攝像機和光源，通過投射光線並接收反射光來生成物體的三維數據。根據光線的行程時間、反射角度或干涉圖樣，計算出物體的尺寸和形狀。
非接觸三次元量測儀是一種重要的測量工具，能夠提供高速度、高精度、無損測量的優勢，適合於各種工業領域的應用。選擇合適的非接觸三次元量測儀，可以顯著提高生產效率和產品質量，成為品質控制和精密測量的關鍵設備。
非接觸三次元影像量測儀利用探針（大部份尾端有一顆紅寶石球）去碰撞工件的邊緣，取得該位置的坐標值，再減去測頭的半徑即為工件的實際坐標值。一般量測儀的三軸都有安裝光學尺，當測頭接觸到工件時，會送出訊號以擷取目標坐標值，再經由量測軟體運算處理，便可計算出我們要的坐標值或尺寸，所以您只要依照量測位置去取點便能得到量測數據。
非接觸三次元影像量測儀是一種利用光學技術進行高精度三維測量的儀器。它可以對物體表面進行掃描，生成高解析度的三維數據。以下是關於非接觸三次元影像量測儀的詳細介紹。
非接觸三次元影像量測儀主要應用於工業製造、品質控制、逆向工程和科研等領域。與傳統接觸式量測相比，非接觸式量測具有速度快、精度高、不損傷被測物體等優點。
非接觸三次元影像量測儀作為現代高精度測量技術的重要設備，廣泛應用於各行各業，為品質控制和生產製造提供了有力保障。
非接觸三次元量測以探針去碰觸工件時應盡可能與工件的被測量面保持垂直的方向。正確有效的使用探針來碰觸量測工件，可以避免掉許多量測上不必要的誤差的產生。但是在實際碰觸取點時，至少需保持與垂直面角度在±30°以內。以防止探針打滑而造成量測的重複精度不佳的情況產生。再藉助系統的探針補償來實現數據的準確性。
非接觸三次元量測技術是一種利用光學原理進行三維測量的方法，無需物理接觸被測物體。這種技術在精密工業、電子產業、醫療設備等領域有廣泛應用。以下是一些常見的非接觸三次元量測技術及其應用：
激光掃描儀通過發射激光束並測量反射回來的光線來捕捉物體的三維形狀。它具有高精度和高速測量的優點，適用於大尺寸物體和複雜形狀的測量。
結構光掃描通過在物體表面投射已知圖案的光線，並使用攝像機捕捉圖案的變形來獲取三維數據。這種方法適合高精度、小型物體的測量。
白光干涉技術利用白光干涉現象來測量物體表面的微觀結構，特別適合納米級精度的測量。
光學三角測量技術利用光源、物體和感測器形成的三角形來測量物體的距離和形狀。這種方法廣泛應用於不同大小和形狀的物體測量。
非接觸量測不會對被測物體造成任何物理損傷，非常適合於脆弱或高價值物品的測量。
許多非接觸技術能夠快速捕捉數據，顯著提高測量效率。
現代非接觸量測技術能夠達到極高的測量精度，滿足苛刻的工業需求。
非接觸三次元量測技術在現代製造業和科學研究中扮演著越來越重要的角色，其高精度和高效能使其成為測量和檢測的重要工具。